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130S光谱测量计算机软件包 |
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单色仪的波长校准与氢光谱测量 |
| 单色仪的波长校准与氢光谱测量【学习重点】了解发射光谱技术的基本实验方法.了解单色仪的使用和波长校准方法.了解光谱识别方法.【仪器用具】单色仪,气体辉光放 实验装置中照明系统的要求与调节方法. 光谱仪的原理与使用. 波长校准和谱线识别的方法. 【背景知识... |
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光缔合产生超冷分子及其光谱测量 |
| 光缔合产生超冷分子及其光谱测量量子光学学报I2(3):I43～I50,2006 l Sinica Qua ntum t)')} n 文章编号:1 007-6654(2006)03-0143-08 光缔合产生超冷分子及其光谱测量 汪丽蓉, 贾锁堂 (量子光学与光量子器件国家重点实验事.山西大学物理电子工程学院,山西太原03006) 摘要: |
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镀膜玻璃的薄膜参数的反射光谱测量法 |
| 镀膜玻璃的薄膜参数的反射光谱测量法镀膜玻璃的薄膜参数的反射光谱测量法项目完成单位:国家建筑材料测试中心项目完成人:刘元新 鲍亚楠 孙宏娟 王廷籍摘 要 本文提出从镀膜玻璃的反射光谱测量薄膜厚度,折射率和消光系数的方法,并从电磁波传播理论和两面镀导电膜玻璃的实验加以证实.本方法测量薄膜厚度的误差随着膜厚的增加而增加,几百纳米膜厚的测量误差不大于10%.测量范围大约为10 |
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用于!"#!$%#&'光谱测量的平场光谱仪 |
| 用于!"#!$%#&'光谱测量的平场光谱仪文章编号!!"#$%""$&""!!'#!$%$&$%'用于!"#!$%#&'光谱测量的平场光谱仪冯志庆!白!兰!李福田"长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室$长春($!!""#摘要!!介绍了以自扫描光电二极管阵列")*+#为探测元件的平像场光谱仪%该谱仪采用车尔尼特纳",-./01% |
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荧光光谱测量系统主要技术要求 |
| 荧光光谱测量系统主要技术要求荧光光谱测量系统主要技术要求1.稳态荧光测试部分 (1)光学系统结构:L形状(2)*工作原理:单光子计数(3)*灵敏度/纯水喇曼信号:峰值计数>1,000,000;保证信噪比>6000:1(4)激发光源:450W氙灯,光谱范围200nm-2600nm(5)UV-NIR波段稳态与瞬态光谱探测器Red-PMT |
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非破坏性光谱测量对曲面镀膜的质量保证非破坏性光谱测... |
| 非破坏性光谱测量对曲面镀膜的质量保证非破坏性光谱测...www.audiodev.comETATM非破坏性光谱测量对曲面镀膜的质量保证非破坏性光谱测量对曲面镀膜的质量保证非破坏性光谱测量对曲面镀膜的质量保证非破坏性光谱测量对曲面镀膜的质量保证www.audiodev.comAudioDev -简介ETA -薄膜测量薄膜测量薄膜测量薄膜测量 |
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HL-2A装置偏滤器位形下的可见光谱测量结果 |
| HL-2A装置偏滤器位形下的可见光谱测量结果SWIPHL-2A装置偏滤器位形下的可见光谱测量结果聚变科学所102室真空紫外课题组(核工业西南物理研究院,成都) 610041SWIP主要内容1,引言2,HL-2A 装置OMA 4系统实验布局3,HL-2A装置偏滤器位形下的可见光谱测量结果 (1)HL-2A装置的 |
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南京师范大学地科院水体光谱测量系统设备招标书 |
| 南京师范大学地科院水体光谱测量系统设备招标书南京师范大学地科院水体光谱测量系统设备招标书南京师范大学是国家"211工程"重点建设高校,因发展需要购置一台进口水体光谱测量系统设备,现以公开招标方式确定厂商,有关具体事项如下:一,标的概况: 见附后设备技术要求二,评标程序:1,参加竞标单位制作标书一式六份(正本一份).2,根据价格,售后服务等 |
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ZLX-FS系列荧光光谱测量系统介绍 |
| ZLX-FS系列荧光光谱测量系统介绍ZLX-FS系列荧光光谱测量系统介绍 在许多应用领域如材料学,生物学(叶绿素和类胡萝卜素),生物医学(恶性病的荧光诊断)和环境应用中都需要用到荧光检测技术.荧光检测通常需要高灵敏度光谱仪,可利用高灵敏度探测器,在大多数应用中荧光能量仅为激发光能量的3%,波长要长于激发光,而且时是散射光.在荧光测量系统中,一定要避免激发光进入到光谱仪中. |